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x荧光镀层测厚仪特性含量检测
点击次数:354 发布时间:2017-12-15
   x荧光镀层测厚仪特性含量检测
  
  x荧光镀层测厚仪的特性:若产生X-射线荧光是由于转移一个电子进入K轨道,一个K轨道上的电子已事先被游离,另一个电子即代替他的地位,此称之为K辐射。不同的能阶转换出不同的能量,如Kα辐射是电子由L轨道跳至K轨道的一种辐射,而Kβ辐射是电子从M轨道跳至K轨道的一种辐射,其间是有区别的。若X-射线荧光是一个电子跳入L的空轨域,此种辐射称为L辐射。同样的L辐射可划分为Lα辐射,此是由M轨道之电子跳入L轨道及Lβ辐射,此是由N轨道之电子跳入L轨道中。由于Kβ辐射能量约为Kα的11%,而Lβ辐射能量较Lα大约20%,所以以能量的观点Lα及Lβ是很容易区分的。
  
  x荧光镀层测厚仪应用领域
  
  黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
  
  金属镀层的厚度测量,电镀液和镀层含量的测定。
  
  x荧光镀层测厚仪主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。
  
  x荧光镀层测厚仪精度控制:
  
  *层:±5%以内
  
  第二层:±8%以内
  
  第三层:±12%以内
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