深圳市精诚兴仪器仪表有限公司

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X射线膜厚测试机开放的校准模式
点击次数:387 发布时间:2017-12-25
   X射线膜厚测试机开放的校准模式
  
  X射线膜厚测试机X射线采用从上至下的照射方式,即使是表面高低不一的样品也可以正确测量。反之,如果是从下至上的照射方式,遇到表面凹凸的样品,无法调整Z轴距离,导致测量光程的变化,引起测量的误差。例如(举例不同距离导致的误差数据)。
  
  开放的校准模式,用户可自行建立校准曲线不受仪器厂家限制。
  
  X射线膜厚测试机测量原理:
  
  采用激光测量位移差的方式,测量薄膜在一定张力下的表面平整度,并根据设定规则自动识别坏品。张力测量模块由一个激光位移传感器、驱动机构组成。通过可调张力张紧薄膜被测物后,驱动机构带动位移传感器横向来回扫描,得到膜片横向的高度差,根据转换关系转换成张力均匀性差异。
  
  深圳市精诚兴仪器仪表有限公司,自创立以来以优质的产品和服务及良好的信誉,
  
  得到了广大用户的认可,在业界迅速发展。公司主要从事进口实验室检测设备和分析仪器的代理销售及其相关的售后服务,产品涵盖半导体、PCB及电子电镀,水处理等
  
  针对不同客户,我司亦有以下产品可供选择:
  
  日本共立测试包总代理
  
  主营产品介绍:X光镀层测厚仪、韩国XRF2000电镀层测厚仪、PCB孔铜测厚仪,特性阻抗检测仪,
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